Communication Dans Un Congrès
Année : 2008
Manuel Flury : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://ujm.hal.science/ujm-00290782
Soumis le : jeudi 26 juin 2008-14:38:13
Dernière modification le : mercredi 24 janvier 2024-09:54:18
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : ujm-00290782 , version 1
Citer
Manuel Flury, Gilles Patriache, David Troadec, Olivier Parriaux. TEM analysis of ion plated HfO2/SiO2 multilayers for femtosecond lasers. 7th Symposium SiO2, advanced dielectrics and related devices, Jul 2008, Saint-Etienne, France. ⟨ujm-00290782⟩
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