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Conference papers

Comparaison entre deux méthodes de caractérisation optique: La spectroscopie des lignes noires et l'ellipsométrie

Issam Gereige 1 Stéphane Robert 1 Damien Jamon 1 Jean Jacques Rousseau 1 Chadi Nader 
1 DIOM - Dispositifs et Instrumentation en Optoélectronique et micro-ondes
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-ujm.archives-ouvertes.fr/ujm-00292136
Contributor : Damien Jamon Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Monday, June 30, 2008 - 3:12:29 PM
Last modification on : Monday, February 22, 2021 - 5:46:04 PM

Identifiers

  • HAL Id : ujm-00292136, version 1

Collections

UNIV-ST-ETIENNE | UDL

Citation

Issam Gereige, Stéphane Robert, Damien Jamon, Jean Jacques Rousseau, Chadi Nader. Comparaison entre deux méthodes de caractérisation optique: La spectroscopie des lignes noires et l'ellipsométrie. CSM5, May 2006, Beyrouth, Lebanon. ⟨ujm-00292136⟩

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