Comparaison entre deux méthodes de caractérisation optique: La spectroscopie des lignes noires et l'ellipsométrie - Archive ouverte HAL Access content directly
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Comparaison entre deux méthodes de caractérisation optique: La spectroscopie des lignes noires et l'ellipsométrie

Damien Jamon  : Connect in order to contact the contributor

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Submitted on : Monday, June 30, 2008-3:12:29 PM

Last modification on : Saturday, March 18, 2023-3:51:45 AM

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ujm-00292136 , version 1 (30-06-2008)

Identifiers

  • HAL Id : ujm-00292136 , version 1

Cite

Issam Gereige, Stéphane Robert, Damien Jamon, Jean Jacques Rousseau, Chadi Nader. Comparaison entre deux méthodes de caractérisation optique: La spectroscopie des lignes noires et l'ellipsométrie. CSM5, May 2006, Beyrouth, Lebanon. ⟨ujm-00292136⟩

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