Comparaison entre deux méthodes de caractérisation optique: La spectroscopie des lignes noires et l'ellipsométrie - Université Jean-Monnet-Saint-Étienne Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2006

Comparaison entre deux méthodes de caractérisation optique: La spectroscopie des lignes noires et l'ellipsométrie

Damien Jamon  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://ujm.hal.science/ujm-00292136

Soumis le : lundi 30 juin 2008-15:12:29

Dernière modification le : samedi 18 mars 2023-03:51:45

Fichier non déposé

Dates et versions

ujm-00292136 , version 1 (30-06-2008)

Identifiants

  • HAL Id : ujm-00292136 , version 1

Citer

Issam Gereige, Stéphane Robert, Damien Jamon, Jean Jacques Rousseau, Chadi Nader. Comparaison entre deux méthodes de caractérisation optique: La spectroscopie des lignes noires et l'ellipsométrie. CSM5, May 2006, Beyrouth, Lebanon. ⟨ujm-00292136⟩

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