Micro-inductance method to measure the permeability of magnetic thin films–limits of validity - Université Jean-Monnet-Saint-Étienne Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue physica status solidi (c) Année : 2004

Micro-inductance method to measure the permeability of magnetic thin films–limits of validity

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Jean-Pierre Chatelon  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://ujm.hal.science/ujm-00356459

Soumis le : mardi 27 janvier 2009-15:18:52

Dernière modification le : samedi 18 mars 2023-03:51:48

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Dates et versions

ujm-00356459 , version 1 (27-01-2009)

Identifiants

  • HAL Id : ujm-00356459 , version 1

Citer

O. Jalled, A. Siblini, T. Boudiar, S. Capraro, Jean-Pierre Chatelon. Micro-inductance method to measure the permeability of magnetic thin films–limits of validity. physica status solidi (c), 2004, 1 (12), pp.3673-3676. ⟨ujm-00356459⟩

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