Skip to Main content Skip to Navigation
Conference papers

Technologie de fabrication et métrologie des réseaux de diffraction de grandes surfaces et de période sub-micrométrique

Yves Jourlin 1
1 LHC - Laboratoire Hubert Curien [Saint Etienne]
Document type :
Conference papers
Complete list of metadata
https://hal-ujm.archives-ouvertes.fr/ujm-00358882
Contributor : Yves Jourlin Connect in order to contact the contributor
Submitted on : Wednesday, February 4, 2009 - 5:11:52 PM
Last modification on : Monday, January 13, 2020 - 5:46:02 PM

Identifiers

  • HAL Id : ujm-00358882, version 1

Collections

UNIV-ST-ETIENNE | CNRS | LAHC | IOGS | PARISTECH | UDL

Citation

Yves Jourlin. Technologie de fabrication et métrologie des réseaux de diffraction de grandes surfaces et de période sub-micrométrique. 1ere rencontres recherche-industrie en nanométrologie, Nov 2007, paris, France. ⟨ujm-00358882⟩

Export

BibTeX TEI DC DCterms EndNote

Share

Metrics

Les métriques sont temporairement indisponibles