Communication Dans Un Congrès
Année : 2010
Jean-Pierre Chatelon : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://ujm.hal.science/ujm-00795868
Soumis le : vendredi 1 mars 2013-09:33:49
Dernière modification le : lundi 3 avril 2023-18:16:08
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : ujm-00795868 , version 1
Citer
B. Abdel Samad, M.-F. Blanc-Mignon, Mohamad Roumie, Jean-Pierre Chatelon, A. Siblini, et al.. Influence of argon flow rate on YIG film deposited by Radio-frequency reactive magnetron sputtering. Seeheim Conference on Magnetism, Mar 2010, Frankfurt, Germany. ⟨ujm-00795868⟩
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