Improvement and characterization of morphological properties of a micro-inductance in a multi-layer structure - Université Jean-Monnet-Saint-Étienne Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2010

Improvement and characterization of morphological properties of a micro-inductance in a multi-layer structure

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

Jean-Pierre Chatelon  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://ujm.hal.science/ujm-00795870

Soumis le : vendredi 1 mars 2013-09:36:44

Dernière modification le : lundi 3 avril 2023-18:16:08

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Dates et versions

ujm-00795870 , version 1 (01-03-2013)

Identifiants

  • HAL Id : ujm-00795870 , version 1

Citer

Ismail Khalil, Jean-Pierre Chatelon, A. Siblini, M.-F. Blanc-Mignon, Jean-Jacques Rousseau. Improvement and characterization of morphological properties of a micro-inductance in a multi-layer structure. Seeheim Conference on Magnetism, Mar 2010, Frankfurt, Germany. ⟨ujm-00795870⟩

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