Characterization of material anisotropy using microwave ellipsometry

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Microwave and Optical Technology Letters, Wiley, 2011, 53 (9), pp.1996-1998
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Contributeur : Bernard Bayard <>
Soumis le : mercredi 20 mars 2013 - 08:42:05
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:20:34

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Frank Gambou, Bernard Bayard, Gérard Noyel. Characterization of material anisotropy using microwave ellipsometry. Microwave and Optical Technology Letters, Wiley, 2011, 53 (9), pp.1996-1998. 〈ujm-00802509〉

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