https://hal-ujm.archives-ouvertes.fr/ujm-00802509
Contributeur : Bernard Bayard
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Soumis le : mercredi 20 mars 2013 - 08:42:05
Dernière modification le : mercredi 25 juillet 2018 - 14:05:30
Frank Gambou, Bernard Bayard, Gérard Noyel. Characterization of material anisotropy using microwave ellipsometry. Microwave and Optical Technology Letters, Wiley, 2011, 53 (9), pp.1996-1998. 〈ujm-00802509〉
