Characterization of material anisotropy using microwave ellipsometry

Frank Gambou; Bernard Bayard; Gérard Noyel

Characterization of material anisotropy using microwave ellipsometry

Frank Gambou ¹ Bernard Bayard ^{2, 1} Gérard Noyel ¹

1 LT2C - Laboratoire Telecom Claude Chappe

2 LHC - Laboratoire Hubert Curien [Saint Etienne]

Type de document :

Article dans une revue

Microwave and Optical Technology Letters, Wiley, 2011, 53 (9), pp.1996-1998

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electromagnétisme

Liste complète des métadonnées

https://hal-ujm.archives-ouvertes.fr/ujm-00802509
Contributeur : Bernard Bayard <>
Soumis le : mercredi 20 mars 2013 - 08:42:05
Dernière modification le : jeudi 11 janvier 2018 - 06:20:34

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