A New Broad-Band Method for Magnetic Thin-Film Characterization in the Microwave Range - Université Jean-Monnet-Saint-Étienne Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques Année : 2005

A New Broad-Band Method for Magnetic Thin-Film Characterization in the Microwave Range

D. Vincent
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 857596
Laboratoire Telecom Claude Chappe
T. Rouiller
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C. R. Simovski
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Bernard Bayard
Laboratoire Telecom Claude Chappe
Gérard Noyel
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Laboratoire Telecom Claude Chappe

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Soumis le : mercredi 20 mars 2013-09:45:12

Dernière modification le : lundi 3 avril 2023-18:16:08

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Dates et versions

ujm-00802549 , version 1 (20-03-2013)

Identifiants

  • HAL Id : ujm-00802549 , version 1

Citer

D. Vincent, T. Rouiller, C. R. Simovski, Bernard Bayard, Gérard Noyel. A New Broad-Band Method for Magnetic Thin-Film Characterization in the Microwave Range. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 2005, 53 (4), pp.1174-1180. ⟨ujm-00802549⟩

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