IEEE Trans. Microwave Theory Tech, 2005, 53 (4), pp.1174-1180
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Contributeur : Bernard Bayard
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D. Vincent, T. Rouiller, C. R. Simovski, Bernard Bayard, Gérard Noyel. A New Broad-Band Method for Magnetic Thin-Film Characterization in the Microwave Range. IEEE Trans. Microwave Theory Tech, 2005, 53 (4), pp.1174-1180. 〈ujm-00802549〉
