A New Broad-Band Method for Magnetic Thin-Film Characterization in the Microwave Range

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IEEE Trans. Microwave Theory Tech, 2005, 53 (4), pp.1174-1180
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Contributeur : Bernard Bayard <>
Soumis le : mercredi 20 mars 2013 - 09:45:12
Dernière modification le : dimanche 15 octobre 2017 - 22:44:13

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D. Vincent, T. Rouiller, C. R. Simovski, Bernard Bayard, Gérard Noyel. A New Broad-Band Method for Magnetic Thin-Film Characterization in the Microwave Range. IEEE Trans. Microwave Theory Tech, 2005, 53 (4), pp.1174-1180. 〈ujm-00802549〉

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