Article Dans Une Revue
Microsystem Technologies
Année : 2014
Yves Jourlin : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://ujm.hal.science/ujm-01069222
Soumis le : lundi 29 septembre 2014-08:46:27
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:52:59
Citer
H. Hirshy, S. G. Scholz, Yves Jourlin, S. Tonchev, S. Reynaud, et al.. 2N Period submicron grating at the inner wall of a metal cylinder. Microsystem Technologies, 2014, 20 (10), pp.1432-1858. ⟨10.1007/s00542-013-1949-y⟩. ⟨ujm-01069222⟩
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