Multi-MGy Radiation Hardened CMOS Image Sensor: Design, Characterization and Total Ionizing Dose Tests

Vincent Goiffon; Franck Corbière; S. Rolando; Magali Estribeau; Pierre Magnan; B. Avon; J. Baer; M. Gaillardin; R. Molina; Philippe Paillet; Sylvain Girard; Aziouz Chabane; Claude Marcandella

Multi-MGy Radiation Hardened CMOS Image Sensor: Design, Characterization and Total Ionizing Dose Tests

Vincent Goiffon ¹ Franck Corbière ¹ S. Rolando ¹ Magali Estribeau ¹ Pierre Magnan ¹ B. Avon ¹ J. Baer ¹ M. Gaillardin ² R. Molina ¹ Philippe Paillet ² Sylvain Girard ³ Aziouz Chabane ¹ Claude Marcandella ²

1 ISAE-SUPAERO - Institut Supérieur de l'Aéronautique et de l'Espace

2 DAM/DIF - DAM Île-de-France

3 LHC - Laboratoire Hubert Curien [Saint Etienne]

Abstract : The radiation hardness of a radiation-hardened-by-design CMOS Image Sensor is validated up to several MGy(SiO2) (>100 Mrad) of TID. The perspectives in terms of further improvements and applications are discussed

Type de document :

Communication dans un congrès

Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC 2015), Jul 2015, Boston, United States

Domaine :

Sciences de l'ingénieur [physics] / Optique / photonique

Sciences de l'ingénieur [physics] / Electronique

Liste complète des métadonnées

https://hal-ujm.archives-ouvertes.fr/ujm-01185888
Contributeur : Sylvain Girard <>
Soumis le : vendredi 21 août 2015 - 21:59:31
Dernière modification le : jeudi 26 juillet 2018 - 12:09:50

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