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Université Jean Monnet – Saint-Etienne |  |
Conference papers
Optical constants (n, k) extraction from R, T measurements in organic thin film
Victorien Raulot 1
Author
Raphael Clerc 1
Author IdHAL : raphael-clerc ORCID : https://orcid.org/0000-0002-2256-4849
Mathieu Hébert 1
Author
Benjamin Bouthinon Bouthinon 2
Author
Jean-Marie Verilhac 2
Author
1
Laboratoire Hubert Curien / Eris (France)
- LHC - Laboratoire Hubert Curien [Saint Etienne] (18 rue du Professeur Lauras 42000 SAINT-ETIENNE - France)
- UJM - Université Jean Monnet [Saint-Étienne] (10 rue Tréfilerie - 42100 Saint-Étienne - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5516 (France)
- IOGS - Institut d'Optique Graduate School (2 avenue Augustin Fresnel, 91127 Palaiseau Cedex - France)
2
LITEN - Laboratoire d'Innovation pour les Technologies des Energies Nouvelles et les nanomatériaux (France)
- INES - Institut National de L'Energie Solaire (Parc Technologique de Savoie Technolac 50 Av. du Lac Léman, Bâtiment Lynx - BP 332 F-73377 Le Bourget-du-Lac cedex - France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRT/LITEN (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
- USMB [Université de Savoie] [Université de Chambéry] - Université Savoie Mont Blanc (27, rue Marcoz - 73000 Chambéry - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique (France)
Document type :
Conference papers
Domain :
Complete list of metadatas
https://hal-ujm.archives-ouvertes.fr/ujm-01225222
Contributor : Mathieu Hébert <>
Submitted on : Thursday, November 5, 2015 - 5:24:27 PM
Last modification on : Monday, August 31, 2020 - 3:09:50 PM
Contributor : Mathieu Hébert <>
Submitted on : Thursday, November 5, 2015 - 5:24:27 PM
Last modification on : Monday, August 31, 2020 - 3:09:50 PM
Identifiers
- HAL Id : ujm-01225222, version 1
Collections
UNIV-ST-ETIENNE | DRT | CNRS | CEA | LAHC | UNIV-SAVOIE | UGA | LITEN | PARISTECH | UNIV-PARIS-SACLAY | IOGS | ERIS | CEA-GRE | UDL
Citation
Victorien Raulot, Raphael Clerc, Mathieu Hébert, Benjamin Bouthinon, Jean-Marie Verilhac. Optical constants (n, k) extraction from R, T measurements in organic thin film. International Conference on Organic Electronics, Jun 2015, Erlangen, Germany. ⟨ujm-01225222⟩
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