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Université Jean Monnet – Saint-Etienne |  |
Conference papers
Radiofrequency characterization of fretting damage in electrical contact
Bilal Benarabi 1
Author
Julie Laporte 2
Author
Bernard Bayard 1
Mail :
Author IdHAL : bernard-bayard-univ-st-etienne-fr ORCID : https://orcid.org/0000-0002-7294-8226
Siegfried Fouvry 3, 2
Mail :
Author
Jeremy Sautel 4
Author
1
LHC - Laboratoire Hubert Curien [Saint Etienne] (18 rue du Professeur Lauras 42000 SAINT-ETIENNE - France)
- UJM - Université Jean Monnet [Saint-Étienne] (10 rue Tréfilerie - 42100 Saint-Étienne - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5516 (France)
- IOGS - Institut d'Optique Graduate School (2 avenue Augustin Fresnel, 91127 Palaiseau Cedex - France)
2
LTDS - Laboratoire de Tribologie et Dynamique des Systèmes (36 Avenue Guy de Collongue, 69134 Ecully Cedex - France)
- ECL - École Centrale de Lyon (36 avenue Guy de Collongue - 69134 Ecully cedex - France)
- Université de Lyon (92 rue Pasteur - CS 30122, 69361 Lyon Cedex 07 - France)
- ENTPE - École Nationale des Travaux Publics de l'État (3, rue Maurice Audin - 69518 Vaulx-en-Velin Cedex - France)
- Ecole Nationale d'Ingénieurs de Saint Etienne (France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5513 (France)
3
ECL - École Centrale de Lyon (36 avenue Guy de Collongue - 69134 Ecully cedex - France)
- Université de Lyon (92 rue Pasteur - CS 30122, 69361 Lyon Cedex 07 - France)
4
Radiall (81 Boulevard Denfert Rochereau 38509-Voiron - France)
Domain :
Complete list of metadatas
https://hal-ujm.archives-ouvertes.fr/ujm-01385461
Contributor : Bernard Bayard <>
Submitted on : Friday, October 21, 2016 - 1:44:31 PM
Last modification on : Monday, January 13, 2020 - 5:46:06 PM
Contributor : Bernard Bayard <>
Submitted on : Friday, October 21, 2016 - 1:44:31 PM
Last modification on : Monday, January 13, 2020 - 5:46:06 PM
Identifiers
- HAL Id : ujm-01385461, version 1
Collections
UNIV-ST-ETIENNE | CNRS | EC-LYON | ENTPE | LTDS | LAHC | IOGS | PARISTECH | UNIV-PARIS-SACLAY | UDL
Citation
Bilal Benarabi, Julie Laporte, Bernard Bayard, Siegfried Fouvry, Jeremy Sautel. Radiofrequency characterization of fretting damage in electrical contact. 5th Connectors symposium, Mar 2015, Lemgo, Germany. ⟨ujm-01385461⟩
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