Characterization of the refractive index of anisotropic materials by microwave ellipsometry - Université Jean-Monnet-Saint-Étienne Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Characterization of the refractive index of anisotropic materials by microwave ellipsometry

Hassane Gogo Ahmat Idriss
  • Fonction : Auteur
Laboratoire Hubert Curien
Bernard Bayard
Laboratoire Hubert Curien

Domaines

Electromagnétisme

Bernard Bayard  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://ujm.hal.science/ujm-01385466

Soumis le : vendredi 21 octobre 2016-13:50:05

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:03

Fichier non déposé

Dates et versions

ujm-01385466 , version 1 (21-10-2016)

Identifiants

  • HAL Id : ujm-01385466 , version 1

Citer

Hassane Gogo Ahmat Idriss, Bernard Bayard. Characterization of the refractive index of anisotropic materials by microwave ellipsometry. 7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, Jun 2016, Berlin, Germany. ⟨ujm-01385466⟩

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