Characterization of the refractive index of anisotropic materials by microwave ellipsometry

Type de document :
Communication dans un congrès
7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, Jun 2016, Berlin, Germany
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Contributeur : Bernard Bayard <>
Soumis le : vendredi 21 octobre 2016 - 13:50:05
Dernière modification le : jeudi 26 juillet 2018 - 01:10:47

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  • HAL Id : ujm-01385466, version 1

Citation

Hassane Gogo Ahmat Idriss, Bernard Bayard. Characterization of the refractive index of anisotropic materials by microwave ellipsometry. 7th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, Jun 2016, Berlin, Germany. 〈ujm-01385466〉

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