Measurement of the electromagnetic properties of thin‐films using a microwave resonant cavity

Radwan Dib; Didier Vincent; Ahmad Elrafhi

doi:10.1002/mop.31499

Article Dans Une Revue Microwave and Optical Technology Letters Année : 2019

Measurement of the electromagnetic properties of thin‐films using a microwave resonant cavity

(1) , (2) , (3)

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3

Radwan Dib

Fonction : Auteur
PersonId : 774703
IdRef : 187846553

Laboratoire Telecom Claude Chappe

Didier Vincent

Fonction : Auteur
PersonId : 937490

Laboratoire Hubert Curien

Ahmad Elrafhi

Fonction : Auteur

Université de Technologie et des Sciences Appliquées libano-française [Liban]

Domaines

Electromagnétisme

Bernard Bayard : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://ujm.hal.science/ujm-02021941

Soumis le : samedi 16 février 2019-22:45:30

Dernière modification le : lundi 3 avril 2023-18:16:08

Dates et versions

ujm-02021941 , version 1 (16-02-2019)

Identifiants

HAL Id : ujm-02021941 , version 1
DOI : 10.1002/mop.31499

Citer

Radwan Dib, Didier Vincent, Ahmad Elrafhi. Measurement of the electromagnetic properties of thin‐films using a microwave resonant cavity. Microwave and Optical Technology Letters, 2019, 61 (1), pp.15-19. ⟨10.1002/mop.31499⟩. ⟨ujm-02021941⟩

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