Article Dans Une Revue
International journal of advanced research
Année : 2019
Bernard Bayard : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://ujm.hal.science/ujm-02054770
Soumis le : samedi 2 mars 2019-10:22:29
Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:09
Citer
A Moungache, B. Bayard, S. Robert. Microwave ellipsometry characterization of isotropic materials using simulated annealing combined with Levenberg-Marquardt algorithm. International journal of advanced research, 2019, 7 (1), pp.994-1001. ⟨10.21474/IJAR01/8413⟩. ⟨ujm-02054770⟩
Collections
53
Consultations
0
Téléchargements