Caractérisation ellipsométrique hyperfréquence de matériaux isotropes par une approche en multicouches

Amir Moungache 1 Bernard Bayard 2, 3 Malloum Soultan 4 Stéphane Robert 3 D. Jamon 5 F. Gambou 2
1 Faculté des sciences de N'Djaména
2 LT2C - Laboratoire Telecom Claude Chappe
3 LHC - Laboratoire Hubert Curien [Saint Etienne]
4 Université de N'Djaména
5 DIOM - Dispositifs et Instrumentation en Optoélectronique et micro-ondes
Document type :
Conference papers
Complete list of metadatas
https://hal-ujm.archives-ouvertes.fr/ujm-02060968
Contributor : Stéphane Robert <>
Submitted on : Thursday, March 7, 2019 - 5:43:07 PM
Last modification on : Tuesday, April 2, 2019 - 2:55:57 AM

Identifiers

  • HAL Id : ujm-02060968, version 1

Collections

UNIV-ST-ETIENNE | IOGS | PARISTECH

Citation

Amir Moungache, Bernard Bayard, Malloum Soultan, Stéphane Robert, D. Jamon, et al.. Caractérisation ellipsométrique hyperfréquence de matériaux isotropes par une approche en multicouches. 12e Journées de Caractérisation Microondes et Matériaux, Mar 2012, Chambéry, France. ⟨ujm-02060968⟩

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