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Université Jean Monnet – Saint-Etienne |  |
Journal articles
The effect of deposition and annealing conditions on crystallographic properties of sputter barium ferrite thick films
B. Bayard 1
Mail :
Author IdHAL : bernard-bayard-univ-st-etienne-fr ORCID : https://orcid.org/0000-0002-7294-8226
Jean-Pierre Chatelon 1
Mail :
Author IdHAL : jean-pierre-chatelon
M. Le Berre 2
Mail :
Author IdHAL : martineleberre
H. Joisten 3
Mail :
Author IdHAL : helene-joisten ORCID : https://orcid.org/0000-0001-8346-8749
J.J. Rousseau 1
Author
D. Barbier 2
Author
1
DIOM - Dispositifs et Instrumentation en Optoélectronique et micro-ondes (France)
- UJM - Université Jean Monnet [Saint-Étienne] : EA3523 (10 rue Tréfilerie - 42100 Saint-Étienne - France)
2
LPM - Laboratoire de physique de la matière (Bâtiment Blaise Pascal 7 avenue Jean Capelle 69621 VILLEURBANNE CEDEX - France)
- CNRS - Centre National de la Recherche Scientifique : UMR5511 (France)
- INSA Lyon - Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (20 Avenue Albert Einstein,
69621 Villeurbanne cedex - France)
- Université de Lyon (92 rue Pasteur - CS 30122, 69361 Lyon Cedex 07 - France)
- INSA - Institut National des Sciences Appliquées (France)
3
CEA-LETI - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (MINATEC 17, rue des Martyrs, 38054, Grenoble Cedex 9 - France)
- DRT (CEA) - Direction de Recherche Technologique (CEA) : DRT (France)
- CEA - Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives : DRT (Centre de Saclay Centre de Grenoble Centre de Cadarache etc - France)
Document type :
Journal articles
Complete list of metadatas
https://hal-ujm.archives-ouvertes.fr/ujm-00356482
Contributor : Jean-Pierre Chatelon <>
Submitted on : Tuesday, January 27, 2009 - 3:43:43 PM
Last modification on : Wednesday, July 8, 2020 - 2:32:02 PM
Contributor : Jean-Pierre Chatelon <>
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Last modification on : Wednesday, July 8, 2020 - 2:32:02 PM
Identifiers
- HAL Id : ujm-00356482, version 1
Collections
UNIV-ST-ETIENNE | CEA | CNRS | INSA-LYON | DRT | LETI | INSA-GROUPE | CEA-GRE | UDL
Citation
B. Bayard, Jean-Pierre Chatelon, M. Le Berre, H. Joisten, J.J. Rousseau, et al.. The effect of deposition and annealing conditions on crystallographic properties of sputter barium ferrite thick films. Sensors and Actuators A: Physical , Elsevier, 2002, 99 (1-2), pp.207-212. ⟨ujm-00356482⟩
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