Application of neural classification in ellipsometry for robust thin films characterization - Université Jean-Monnet-Saint-Étienne Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue Thin Solid Films Année : 2009

Application of neural classification in ellipsometry for robust thin films characterization

Issam Gereige
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 864273
Robert Stéphane
Dispositifs et Instrumentation en Optoélectronique et micro-ondes

Domaines

Optique [physics.optics] Optique / photonique

Issam Gereige  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://ujm.hal.science/ujm-00428541

Soumis le : jeudi 29 octobre 2009-09:14:27

Dernière modification le : samedi 18 mars 2023-03:51:51

Fichier non déposé

Dates et versions

ujm-00428541 , version 1 (29-10-2009)

Identifiants

  • HAL Id : ujm-00428541 , version 1

Citer

Issam Gereige, Robert Stéphane. Application of neural classification in ellipsometry for robust thin films characterization. Thin Solid Films, 2009. ⟨ujm-00428541⟩

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