Microwave ellipsometry characterization of isotropic materials using simulated annealing combined with Levenberg-Marquardt algorithm

A Moungache; B. Bayard; S. Robert

doi:10.21474/IJAR01/8413

Article Dans Une Revue International journal of advanced research Année : 2019

Microwave ellipsometry characterization of isotropic materials using simulated annealing combined with Levenberg-Marquardt algorithm

, (1) , (1)

1

A Moungache

Fonction : Auteur

B. Bayard

Fonction : Auteur
PersonId : 10187
IdHAL : bernard-bayard-univ-st-etienne-fr
ORCID : 0000-0002-7294-8226
IdRef : 060454253

Laboratoire Hubert Curien

S. Robert

Fonction : Auteur
PersonId : 10263
IdHAL : stephane-robert
IdRef : 077187717

Laboratoire Hubert Curien

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Electromagnétisme

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https://ujm.hal.science/ujm-02054770

Soumis le : samedi 2 mars 2019-10:22:29

Dernière modification le : vendredi 24 mars 2023-14:53:09

Dates et versions

ujm-02054770 , version 1 (02-03-2019)

Identifiants

HAL Id : ujm-02054770 , version 1
DOI : 10.21474/IJAR01/8413

Citer

A Moungache, B. Bayard, S. Robert. Microwave ellipsometry characterization of isotropic materials using simulated annealing combined with Levenberg-Marquardt algorithm. International journal of advanced research, 2019, 7 (1), pp.994-1001. ⟨10.21474/IJAR01/8413⟩. ⟨ujm-02054770⟩

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